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赛默飞(原FEI)Volumescope 2
在大体积样品上获得最高质量三个方向分辨率一致三维数据生命科学专用的 Thermo Scientific Volumescope 2 扫描电子显微镜(Scanning Electron
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赛默飞(原FEI)Volumescope 2 扫描电镜
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赛默飞(原FEI)Quattro
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赛默飞(原FEI)ELITE 系统
无损三维电气故障定位随着“超越摩尔定律”技术的普及,封装和组装相关缺陷变得越来越难以识别。互连更加精细、更加复杂;芯片和封装被堆叠并平铺为复杂结构。焊点间距更小,而基板则采用更高的图案和嵌入式组件
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赛默飞(原FEI)Explorer 4 Analyzer
Thermo Scientific™ Explorer™ 4 Analyzer 是用于颗粒物分布统计过程控制的解决方案,帮助确定制造工艺是否受控、查找颗粒以及大批量颗粒表征。Explorer 4
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赛默飞(原FEI) Verios XHR SEM
Verios XHR SEMVerios 是 FEI 领先的 XHR(极高分辨率)SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中,它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率
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赛默飞(原FEI)Glacios 冷冻透射电镜
使用单颗粒分析技术测定大分子结构的完整解决方案冷冻电镜单颗粒分析技术(Single Particle Analysis,SPA)可测定蛋白、蛋白复合物和其他生物大分子近原子分辨率的三维结构。这一成功
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赛默飞(原FEI)Aquilos 2 Cryo-FIB冷冻聚焦离子束显微镜
第二代专为冷冻断层扫描分析制备冷冻超薄切片的冷冻聚焦离子束显微镜Thermo Scientific Aquilos 2 Cryo Focused Ion Beam(冷冻聚焦离子束显微镜
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赛默飞(原FEI)Apreo场发射扫描电子显微镜
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赛默飞(原FEI)Metrios DX扫描 / 透射电子显微镜
重新构想的大批量自动化 S/TEM 成像和测量技术成像和计量技术快速、准确的数据精准的数据。Metrios DX 是一款彻底重新设计的 80-200 kV 扫描 / 透射电子显微镜,能够以前所未有的
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